Hochschulschrift
Eigenspannungsmessungen an einkristallinen und polykristallinen Materialien mittels digitaler Bildkorrelation und Focused Ion Beam
- Alternative title
-
Residual stress measurements on single and polycrystalline materials by means of digital image correlation and focused ion beam
- Location
-
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- Extent
-
Online-Ressource
- Language
-
Deutsch
- Notes
-
Erlangen, Friedrich-Alexander-Universität Erlangen-Nürnberg (FAU), Dissertation, 2016
- Bibliographic citation
-
FAU Studien Materialwissenschaft und Werkstofftechnik ; 11
- Keyword
-
Eigenspannung
Elastizität
Anisotropie
Bildkorrelation
Ionenstrahlanalyse
Nickellegierung
Schutzschicht
Kohlenstoff
Amorpher Zustand
Metallisches Glas
Eigenspannung
Messung
Mechanische Spannung
Bildkorrelation
Material
Bildkorrelation
Eigenspannung
Elastizitätstheorie
Ionenstoß
- Event
-
Veröffentlichung
- (where)
-
Erlangen
- (who)
-
FAU University Press
- (when)
-
2016
- Creator
- Contributor
-
Göken, Mathias
Eberl, Chris
FAU University Press ein Imprint der Universität Erlangen-Nürnberg. Universitätsbibliothek
- URN
-
urn:nbn:de:bvb:29-opus4-79521
- Rights
-
Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
- Last update
-
14.08.2025, 10:45 AM CEST
Data provider
This object is provided by:
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Object type
- Hochschulschrift
Associated
- Krottenthaler, Markus
- Göken, Mathias
- Eberl, Chris
- FAU University Press ein Imprint der Universität Erlangen-Nürnberg. Universitätsbibliothek
- FAU University Press
Time of origin
- 2016
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