Thin film analysis by x-ray scattering

Standort
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
ISBN
3527310525
9783527310524
Maße
25 cm
Umfang
XXII, 356 S.
Sprache
Englisch
Anmerkungen
Ill., graph. Darst.
Literaturangaben

Klassifikation
Physik
Schlagwort
Dünne Schicht
Röntgenstreuung

Ereignis
Veröffentlichung
(wo)
Weinheim
(wer)
Wiley-VCH
(wann)
2006
Beteiligte Personen und Organisationen
Birkholz, Mario

Inhaltsverzeichnis
Rechteinformation
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Letzte Aktualisierung
11.03.2025, 12:30 MEZ

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Beteiligte

  • Birkholz, Mario
  • Wiley-VCH

Entstanden

  • 2006

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