Thin film analysis by x-ray scattering

Location
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
ISBN
3527310525
9783527310524
Dimensions
25 cm
Extent
XXII, 356 S.
Language
Englisch
Notes
Ill., graph. Darst.
Literaturangaben

Classification
Physik
Keyword
Dünne Schicht
Röntgenstreuung

Event
Veröffentlichung
(where)
Weinheim
(who)
Wiley-VCH
(when)
2006
Contributor
Birkholz, Mario

Table of contents
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Last update
11.03.2025, 12:30 PM CET

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  • Birkholz, Mario
  • Wiley-VCH

Time of origin

  • 2006

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