Device reliability challenges for modern semiconductor circuit design – a review

Standort
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
Umfang
Online-Ressource
Sprache
Englisch

Erschienen in
Device reliability challenges for modern semiconductor circuit design – a review ; volume:7 ; year:2009 ; pages:201-211
Advances in radio science ; 7 (2009), 201-211

Urheber
Schlünder, C.

DOI
10.5194/ars-7-201-2009
URN
urn:nbn:de:101:1-2018010216929
Rechteinformation
Open Access; Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
Letzte Aktualisierung
15.08.2025, 07:29 MESZ

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Beteiligte

  • Schlünder, C.

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