Device reliability challenges for modern semiconductor circuit design – a review
- Standort
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Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- Umfang
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Online-Ressource
- Sprache
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Englisch
- Erschienen in
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Device reliability challenges for modern semiconductor circuit design – a review ; volume:7 ; year:2009 ; pages:201-211
Advances in radio science ; 7 (2009), 201-211
- Urheber
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Schlünder, C.
- DOI
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10.5194/ars-7-201-2009
- URN
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urn:nbn:de:101:1-2018010216929
- Rechteinformation
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Open Access; Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
- Letzte Aktualisierung
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15.08.2025, 07:29 MESZ
Datenpartner
Deutsche Nationalbibliothek. Bei Fragen zum Objekt wenden Sie sich bitte an den Datenpartner.
Beteiligte
- Schlünder, C.