X-ray diffraction by disordered lamellar structures : theory and applications to microdivided silicates and carbons

Location
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
ISBN
9783540512226
3540512225
9780387512228
0387512225
Dimensions
24 cm
Extent
XVII, 371 S.
Language
Deutsch
Notes
Ill., graph. Darst.
Literaturangaben

Keyword
Mikrokristall
Schichtgitter
Gitterbaufehler
Röntgenstrukturanalyse

Event
Veröffentlichung
(where)
Berlin, Heidelberg, New York, London, Paris, Tokyo, Hong Kong, Barcelona
(who)
Springer
(when)
1990
Creator
Dric, Viktor A.
Tchoubar, Cyril

Table of contents
Rights
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Last update
11.06.2025, 1:51 PM CEST

Data provider

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Time of origin

  • 1990

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