Betrachtung der Kristallinitätsentwicklung in mikrokristallinem Dünnschicht-Silizium mit in-situ Raman-Spekroskopie
- Weitere Titel
-
Observation of the crystallinity evolution in microcrystalline thin-film silicon by in-situ Raman spectroscopy
- Standort
-
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- Umfang
-
Online-Ressource
- Sprache
-
Deutsch
- Anmerkungen
-
RWTH Aachen University, Dissertation, 2017
- Erschienen in
-
Schriften des Forschungszentrums Jülich. Reihe Energie & Umwelt/ Energy & environment ; 405
- Klassifikation
-
Elektrotechnik, Elektronik
- Ereignis
-
Veröffentlichung
- (wo)
-
Aachen
- (wer)
-
Universitätsbibliothek der RWTH Aachen
- (wann)
-
2018
- Urheber
- Beteiligte Personen und Organisationen
-
Uwe Rau, Prof. Dr.
Roland Schmechel, Prof. Dr.
- DOI
-
10.18154/RWTH-2018-223260
- URN
-
urn:nbn:de:101:1-2019052805540230366711
- Rechteinformation
-
Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
- Letzte Aktualisierung
-
25.03.2025, 13:47 MEZ
Datenpartner
Dieses Objekt wird bereitgestellt von:
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Beteiligte
- Fink, Thomas
- Uwe Rau, Prof. Dr.
- Roland Schmechel, Prof. Dr.
- Universitätsbibliothek der RWTH Aachen
Entstanden
- 2018
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