Betrachtung der Kristallinitätsentwicklung in mikrokristallinem Dünnschicht-Siliziummit in-situ Raman-Spektroskopie

Standort
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
ISSN
1866-1793
Umfang
Online-Ressource
Sprache
Deutsch
Anmerkungen
Vom Verlag als Druckwerk on demand und/oder als E-Book angeboten

Erschienen in
Schriften des Forschungszentrums Jülich Reihe Energie & Umwelt / Energy & Environment ; 405

Klassifikation
Elektrotechnik, Elektronik
Schlagwort
Solarzelle
Raman-Spektroskopie
Raman-Spektrum
Kurzschlussstrom
Absorptionskoeffizient
Dünnschichtsolarzelle

Ereignis
Veröffentlichung
(wo)
Jülich
(wer)
Forschungszentrum Jülich GmbH, Zentralbibliothek
(wann)
2018
Urheber

URN
urn:nbn:de:0001-2018032818
Rechteinformation
Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
Letzte Aktualisierung
25.03.2025, 13:49 MEZ

Datenpartner

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Beteiligte

  • Fink, Thomas
  • Forschungszentrum Jülich GmbH, Zentralbibliothek

Entstanden

  • 2018

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