Hochschulschrift

On-wafer characterization of mm-wave and THz circuits using electrooptic sampling

Location
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
Extent
Online-Ressource
Language
Englisch
Notes
In: Zugl.: München : Verlag Dr. Hut, 2016. ISBN 978-3-8439-2974-5
Siegen, Universität Siegen, Dissertation, 2016

Bibliographic citation
Höchstfrequenztechnik und Quantenelektronik ; 7

Classification
Physik
Keyword
Femtosekundenlaser ; Messsystem ; Elektrooptische Abtastung ; Wellenleiter

Event
Veröffentlichung
(where)
Siegen
(who)
Universitätsbibliothek der Universität Siegen
(when)
2017
Creator

URN
urn:nbn:de:hbz:467-10849
Rights
Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
Last update
14.08.2025, 10:52 AM CEST

Data provider

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Object type

  • Hochschulschrift

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Time of origin

  • 2017

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