Current tuned slotted Y-branch laser for wafer thickness measurements with THz radiation
- Location
-
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- Extent
-
Online-Ressource
- Language
-
Englisch
- Bibliographic citation
-
In: Electronics letters, 57, 24, S. 936-938
- Classification
-
Elektrotechnik, Elektronik
- Event
-
Veröffentlichung
- (where)
-
Bochum
- (who)
-
Ruhr-Universität Bochum
- (when)
-
2021
- Creator
-
Surkamp, Nils Dominik
Gerling, Alexandra
O'Gorman, James
Honsberg, Martin
Schmidtmann, Sebastian
Nandi, Uttam
Preu, Sascha
Sacher, Joachim
Brenner, Carsten
Hofmann, Martin
- URN
-
urn:nbn:de:hbz:294-122782
- Rights
-
Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
- Last update
-
15.08.2025, 7:30 AM CEST
Data provider
Deutsche Nationalbibliothek. If you have any questions about the object, please contact the data provider.
Associated
- Surkamp, Nils Dominik
- Gerling, Alexandra
- O'Gorman, James
- Honsberg, Martin
- Schmidtmann, Sebastian
- Nandi, Uttam
- Preu, Sascha
- Sacher, Joachim
- Brenner, Carsten
- Hofmann, Martin
- Ruhr-Universität Bochum
Time of origin
- 2021