Current tuned slotted Y-branch laser for wafer thickness measurements with THz radiation

Location
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
Extent
Online-Ressource
Language
Englisch

Bibliographic citation
In: Electronics letters, 57, 24, S. 936-938

Classification
Elektrotechnik, Elektronik

Event
Veröffentlichung
(where)
Bochum
(who)
Ruhr-Universität Bochum
(when)
2021
Creator
Surkamp, Nils Dominik
Gerling, Alex­an­dra
O'Gorman, James
Honsberg, Martin
Schmidtmann, Sebastian
Nandi, Uttam
Preu, Sascha
Sacher, Joachim
Brenner, Carsten
Hofmann, Martin

URN
urn:nbn:de:hbz:294-122782
Rights
Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
Last update
15.08.2025, 7:30 AM CEST

Data provider

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  • Surkamp, Nils Dominik
  • Gerling, Alex­an­dra
  • O'Gorman, James
  • Honsberg, Martin
  • Schmidtmann, Sebastian
  • Nandi, Uttam
  • Preu, Sascha
  • Sacher, Joachim
  • Brenner, Carsten
  • Hofmann, Martin
  • Ruhr-Universität Bochum

Time of origin

  • 2021

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