Hochschulschrift
Elektromagnetische Rückwirkung der Messumgebung in der EMV Mess- und Prüftechnik
- Standort
-
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- ISBN
-
9783183403080
3183403080
- Maße
-
21 cm
- Umfang
-
VII, 143 S.
- Ausgabe
-
Als Ms. gedr
- Sprache
-
Deutsch
- Anmerkungen
-
graph. Darst.
Zugl.: Karlsruhe, Univ., Diss., 1993
- Erschienen in
-
Fortschritt-Berichte VDI / Verein Deutscher Ingenieure ; Nr. 403, Reihe 08
- Schlagwort
-
Elektromagnetische Verträglichkeit
Wellenleiter
Messplatz
- Ereignis
-
Veröffentlichung
- (wo)
-
Düsseldorf
- (wer)
-
VDI-Verl.
- (wann)
-
1994
- Urheber
-
Kunz, Siegbert
- Inhaltsverzeichnis
- Rechteinformation
-
Bei diesem Objekt liegt nur das Inhaltsverzeichnis digital vor. Der Zugriff darauf ist unbeschränkt möglich.
- Letzte Aktualisierung
-
11.06.2025, 14:19 MESZ
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Objekttyp
- Hochschulschrift
Beteiligte
- Kunz, Siegbert
- VDI-Verl.
Entstanden
- 1994
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