- Location
-
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- ISBN
-
9783540158783
3540158782
9780387158785
0387158782
- Dimensions
-
24 cm
- Extent
-
385 S.
- Language
-
Deutsch
- Notes
-
154 Ill. u. graph. Darst.
Literaturangaben
- Bibliographic citation
-
Halbleiter-Elektronik ; Bd. 20
- Keyword
-
Integrierte Schaltung
Messung
Integrierte Schaltung
Prüfung
Halbleiterbauelement
Messung
Halbleiterbauelement
Prüfung
Optoelektronisches Bauelement
Messung
Photometrie
Optoelektronik
Integrierte Schaltungen
Halbleiterelektronik
Halbleitertechnik
Lichtmeßtechnik
Fotometrie
Optoelektronik
Integrierte Schaltung
Halbleiterelektronik
Halbleitertechnologie
Lichtmenge
- Event
-
Veröffentlichung
- (where)
-
Berlin, Heidelberg, New York, Tokyo
- (who)
-
Springer
- (when)
-
1986
- Creator
-
Zerbst, Manfred
- Table of contents
- Rights
-
Bei diesem Objekt liegt nur das Inhaltsverzeichnis digital vor. Der Zugriff darauf ist unbeschränkt möglich.
- Last update
-
11.03.2025, 11:52 AM CET
Data provider
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- Springer
Time of origin
- 1986
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