Focused electron beam-based 3D nanoprinting for scanning probe microscopy: a review

Standort
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
Umfang
Online-Ressource
Sprache
Englisch

Erschienen in
In: Micromachines, 11.2020, Nr. 1, Art. 48, doi:10.3390/mi11010048

Ereignis
Veröffentlichung
(wo)
Frankfurt am Main
(wer)
Universitätsbibliothek Johann Christian Senckenberg
(wann)
2019
Urheber
Plank, Harald
Winkler, Robert
Schwalb, Christian H.
Hütner, Johanna
Fowlkes, Jason D.
Rack, Philip D.
Utke, Ivo
Huth, Michael

URN
urn:nbn:de:hebis:30:3-527482
Rechteinformation
Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
Letzte Aktualisierung
25.03.2025, 13:48 MEZ

Datenpartner

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Beteiligte

  • Plank, Harald
  • Winkler, Robert
  • Schwalb, Christian H.
  • Hütner, Johanna
  • Fowlkes, Jason D.
  • Rack, Philip D.
  • Utke, Ivo
  • Huth, Michael
  • Universitätsbibliothek Johann Christian Senckenberg

Entstanden

  • 2019

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