Monografie

Reliability studies of GaN High Electron Mobility Transistors

Sprache
Englisch
Umfang
162 S.
Anmerkungen
Zugl.: Freiburg (Breisgau), Univ., Diss., 2013
ISBN
978-3-8396-0897-5
Identifier
1073854337

Reihe
Science for systems; Bd. 22

Thema
HEMT ; Galliumnitrid ; Hochfrequenz ; Degradation ; Zuverlässigkeit ; Hochschulschrift

Beteiligte Personen und Organisationen
Cäsar, Markus
Ambacher, Oliver
Fraunhofer IRB-Verlag
Fraunhofer IAF, Freiburg

Inhaltsverzeichnis
Rechteinformation
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Letzte Aktualisierung
15.04.2024, 08:55 MESZ

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