Hochschulschrift

Korrelation zwischen Mikrostruktur und elektrischem Widerstand in flüssigphasengesintertem Siliciumcarbid untersucht mittels Transmissionselektronenmikroskopie

Standort
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
ISBN
9783831601929
3831601925
Maße
21 cm
Umfang
132 S.
Ausgabe
1. Aufl.
Sprache
Deutsch
Anmerkungen
Ill., graph. Darst.
Zugl.: Bayreuth, Univ., Diss., 2002

Erschienen in
Institut für Materialforschung - Bayreuth / Institut für Materialforschung ; 14

Schlagwort
Siliciumcarbid
Sintern
Mikrostruktur
Elektrische Leitfähigkeit

Ereignis
Veröffentlichung
(wo)
München
(wer)
Utz, Wiss.
(wann)
2003
Urheber

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Letzte Aktualisierung
11.06.2025, 13:39 MESZ

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Objekttyp

  • Hochschulschrift

Beteiligte

Entstanden

  • 2003

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