X-ray imaging of silicon die within fully packaged semiconductor devices

Standort
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
Umfang
Online-Ressource
Sprache
Englisch
Anmerkungen
Powder diffraction. - 36, 2 (2021) , 78 - 84, ISSN: 1945-7413

Ereignis
Veröffentlichung
(wo)
Freiburg
(wer)
Universität
(wann)
2021
Urheber

DOI
10.1017/S088571562100021X
URN
urn:nbn:de:bsz:25-freidok-1944664
Rechteinformation
Kein Open Access; Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
Letzte Aktualisierung
15.08.2025, 07:30 MESZ

Datenpartner

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Beteiligte

Entstanden

  • 2021

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