Hochschulschrift
Selbsttest und Fehlertoleranz mit zugelassener milder Degradation in integrierten CMOS-Sensorsystemen
- Location
-
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- Dimensions
-
30 cm
- Extent
-
XVI, 204 Bl.
- Language
-
Deutsch
- Notes
-
Ill., graph. Darst.
Duisburg, Univ., Diss., 2001 (Nicht für den Austausch)
- Classification
-
Elektrotechnik, Elektronik
- Keyword
-
Integrierter Sensor
CMOS-Schaltung
Selbsttest
Korrektur
Fehlertoleranz
Degradation
- Creator
- Table of contents
- Rights
-
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- Last update
-
11.03.2025, 12:00 PM CET
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Object type
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