Hochschulschrift
Selbsttest und Fehlertoleranz mit zugelassener milder Degradation in integrierten CMOS-Sensorsystemen
- Standort
-
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- Maße
-
30 cm
- Umfang
-
XVI, 204 Bl.
- Sprache
-
Deutsch
- Anmerkungen
-
Ill., graph. Darst.
Duisburg, Univ., Diss., 2001 (Nicht für den Austausch)
- Klassifikation
-
Elektrotechnik, Elektronik
- Schlagwort
-
Integrierter Sensor
CMOS-Schaltung
Selbsttest
Korrektur
Fehlertoleranz
Degradation
- Urheber
- Inhaltsverzeichnis
- Rechteinformation
-
Bei diesem Objekt liegt nur das Inhaltsverzeichnis digital vor. Der Zugriff darauf ist unbeschränkt möglich.
- Letzte Aktualisierung
-
11.03.2025, 12:00 MEZ
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Objekttyp
- Hochschulschrift
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