Hochschulschrift
Selbsttest und Fehlertoleranz mit zugelassener milder Degradation in integrierten CMOS-Sensorsystemen
- Location
-
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- Extent
-
Online-Ressource
- Language
-
Deutsch
- Notes
-
Duisburg, Univ., Diss., 2001
- Classification
-
Elektrotechnik, Elektronik
- Keyword
-
Integrierter Sensor
CMOS-Schaltung
Selbsttest
Korrektur
Fehlertoleranz
Degradation
- Creator
- URN
-
urn:nbn:de:hbz:464-20061017-113835-2
- Rights
-
Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
- Last update
-
25.03.2025, 1:53 PM CET
Data provider
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Object type
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