Advanced atomic force microscopy techniques

Standort
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
Umfang
Online-Ressource

Erschienen in
Advanced atomic force microscopy techniques ; volume:3 ; pages:893-894
Beilstein journal of nanotechnology ; 3, 893-894

Klassifikation
Ingenieurwissenschaften und Maschinenbau

DOI
10.3762/bjnano.3.99
URN
urn:nbn:de:101:1-2013012219902
Rechteinformation
Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
Letzte Aktualisierung
14.08.2025, 10:51 MESZ

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