Hochschulschrift

Untersuchungen der Qualität von Lötverbindungen auf Leiterplatten mit durchgesteckten Bauelementeanschlüssen in der Elektronik : Teil 2: Zerstörungsfreie elektrische Prüfverfahren für Lötverbindungen

Standort
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
Maße
30 cm
Umfang
123 Bl.
Sprache
Deutsch
Anmerkungen
Ill.
Dresden, Techn. Univ., Fak. für Datenverarbeitung, Diss. A, 1974. (Nicht f.d. Austausch.)

Urheber
Scholze, Matthias

Inhaltsverzeichnis
Rechteinformation
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Letzte Aktualisierung
11.06.2025, 13:48 MESZ

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Objekttyp

  • Hochschulschrift

Beteiligte

  • Scholze, Matthias

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