Hochschulschrift
Untersuchungen der Qualität von Lötverbindungen auf Leiterplatten mit durchgesteckten Bauelementeanschlüssen in der Elektronik : Teil 2: Zerstörungsfreie elektrische Prüfverfahren für Lötverbindungen
- Standort
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Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- Maße
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30 cm
- Umfang
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123 Bl.
- Sprache
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Deutsch
- Anmerkungen
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Ill.
Dresden, Techn. Univ., Fak. für Datenverarbeitung, Diss. A, 1974. (Nicht f.d. Austausch.)
- Urheber
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Scholze, Matthias
- Inhaltsverzeichnis
- Rechteinformation
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- Letzte Aktualisierung
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11.06.2025, 13:48 MESZ
Datenpartner
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Objekttyp
- Hochschulschrift
Beteiligte
- Scholze, Matthias