Hochschulschrift

Untersuchungen der Qualität von Lötverbindungen auf Leiterplatten mit durchgesteckten Bauelementeanschlüssen in der Elektronik : Teil 2: Zerstörungsfreie elektrische Prüfverfahren für Lötverbindungen

Location
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
Dimensions
30 cm
Extent
123 Bl.
Language
Deutsch
Notes
Ill.
Dresden, Techn. Univ., Fak. für Datenverarbeitung, Diss. A, 1974. (Nicht f.d. Austausch.)

Creator
Scholze, Matthias

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Rights
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Last update
11.06.2025, 1:48 PM CEST

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Object type

  • Hochschulschrift

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  • Scholze, Matthias

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