Hochschulschrift
Faseroptische Verbindungen zwischen integrierten Schaltkreisen zur Überwindung der Verbindungskrise in der VLSI-Technik
- Standort
-
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- Maße
-
30 cm
- Umfang
-
136 S.
- Sprache
-
Deutsch
- Anmerkungen
-
Ill., graph. Darst.
Jena, Univ., Diss., 2005
- Klassifikation
-
Ingenieurwissenschaften und Maschinenbau
- Schlagwort
-
Verbindungstechnik
Faseroptisches Bauelement
VLSI
Prozessor
Speicherkopplung
Computerarchitektur
Faseroptisches Bauelement ; Prozessor ; Schnittstelle ; Verbindungstechnik
- Urheber
- Inhaltsverzeichnis
- Rechteinformation
-
Bei diesem Objekt liegt nur das Inhaltsverzeichnis digital vor. Der Zugriff darauf ist unbeschränkt möglich.
- Letzte Aktualisierung
-
11.06.2025, 14:02 MESZ
Datenpartner
Dieses Objekt wird bereitgestellt von:
Deutsche Nationalbibliothek. Bei Fragen zum Objekt wenden Sie sich bitte an den Datenpartner.
Deutsche Nationalbibliothek. Bei Fragen zum Objekt wenden Sie sich bitte an den Datenpartner.
Objekttyp
- Hochschulschrift
Beteiligte
Ähnliche Objekte (12)
Faseroptische Verbindungen zwischen integrierten Schaltkreisen zur Überwindung der Verbindungskrise in der VLSI-Technik
Grundlagen der VLSI-Technik, 1
Grundlagen der VLSI-Technik, 2
Datentransfer und Schnittstellen für offene integrierte VLSI-Entwurfsysteme : Abschlussbericht
Grundlagenentwicklung für eine 1,5 μm VLSI-Technik [my-m-VLSI-Technik] : Teil 1 - 4
VLSI-Systeme
VLSI-Systeme
VLSI-Komplexitätsuntersuchungen
Kristallfehler in integrierten Schaltkreisen aus Silizium, insbesondere in Hinblick auf Grösstintegration (VLSI)
Beiträge zum CAD-integrierten Test gemischt analog-digitaler Hochgeschwindigkeitsschaltungen auf VLSI-Testsystemen
Zuverlässigkeit von MOS-Transistoren in der VLSI-Technik
Fehlertolerante VLSI-Prozessoren
Faseroptische Verbindungen zwischen integrierten Schaltkreisen zur Überwindung der Verbindungskrise in der VLSI-Technik
Grundlagen der VLSI-Technik, 1
Grundlagen der VLSI-Technik, 2
Datentransfer und Schnittstellen für offene integrierte VLSI-Entwurfsysteme : Abschlussbericht
Grundlagenentwicklung für eine 1,5 μm VLSI-Technik [my-m-VLSI-Technik] : Teil 1 - 4
VLSI-Systeme
VLSI-Systeme
VLSI-Komplexitätsuntersuchungen
Kristallfehler in integrierten Schaltkreisen aus Silizium, insbesondere in Hinblick auf Grösstintegration (VLSI)
Beiträge zum CAD-integrierten Test gemischt analog-digitaler Hochgeschwindigkeitsschaltungen auf VLSI-Testsystemen
Zuverlässigkeit von MOS-Transistoren in der VLSI-Technik
Fehlertolerante VLSI-Prozessoren
Faseroptische Verbindungen zwischen integrierten Schaltkreisen zur Überwindung der Verbindungskrise in der VLSI-Technik
Grundlagen der VLSI-Technik, 1
Grundlagen der VLSI-Technik, 2
Datentransfer und Schnittstellen für offene integrierte VLSI-Entwurfsysteme : Abschlussbericht
Grundlagenentwicklung für eine 1,5 μm VLSI-Technik [my-m-VLSI-Technik] : Teil 1 - 4
VLSI-Systeme
VLSI-Systeme
VLSI-Komplexitätsuntersuchungen
Kristallfehler in integrierten Schaltkreisen aus Silizium, insbesondere in Hinblick auf Grösstintegration (VLSI)
Beiträge zum CAD-integrierten Test gemischt analog-digitaler Hochgeschwindigkeitsschaltungen auf VLSI-Testsystemen
Zuverlässigkeit von MOS-Transistoren in der VLSI-Technik