Hochschulschrift

Modelling methods for testability analysis of analog integrated circuits based on pole-zero analysis

Standort
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
Maße
30 cm
Umfang
IV, 175 S.
Sprache
Englisch
Anmerkungen
graph. Darst.
Duisburg, Essen, Univ., Diss., 2004 (Nicht für den Austausch)

Klassifikation
Ingenieurwissenschaften und Maschinenbau
Schlagwort
Analogschaltung
Testbarkeit
Beobachtbarkeit
Steuerbarkeit
Sensitivitätsanalyse

Urheber

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Letzte Aktualisierung
11.03.2025, 12:00 MEZ

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Objekttyp

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