Hochschulschrift
Investigation of light induced defects in hydrogenated amorphous silicon by low temperature annealing and pulsed degradation
- Location
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Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- Dimensions
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30 cm
- Extent
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106 S.
- Language
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Englisch
- Notes
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graph. Darst.
Marburg, Univ., Diss., 2002
- Keyword
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Silicium
Amorpher Halbleiter
Wasserstoff
Lichtinduzierter Defekt
- Creator
- Table of contents
- Rights
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- Last update
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11.06.2025, 2:12 PM CEST
Data provider
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Object type
- Hochschulschrift