Hochschulschrift

Investigation of light induced defects in hydrogenated amorphous silicon by low temperature annealing and pulsed degradation

Location
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
Dimensions
30 cm
Extent
106 S.
Language
Englisch
Notes
graph. Darst.
Marburg, Univ., Diss., 2002

Keyword
Silicium
Amorpher Halbleiter
Wasserstoff
Lichtinduzierter Defekt

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Last update
11.06.2025, 2:12 PM CEST

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