Hochschulschrift
Hochvolt MOS-Transistoren (50V) mit integrierter Temperaturüberwachung zur Realisierung mit einem 0,18µm CMOS-Prozess
- Alternative title
-
High voltage MOS-transistors (50V) with integrated temperature control for realization with an 0.18µm CMOS process
My-m
- Location
-
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- Extent
-
Online-Ressource
- Language
-
Deutsch
- Notes
-
Erlangen, Universität Erlangen-Nürnberg, Diss., 2011
- Classification
-
Elektrotechnik, Elektronik
- Keyword
-
Temperaturmessung
- Event
-
Veröffentlichung
- (where)
-
Erlangen
- (who)
-
Universitätsbibliothek der Universität Erlangen-Nürnberg
- (when)
-
2011
- Creator
- Contributor
-
Stoisiek, Michael
- URN
-
urn:nbn:de:bvb:29-opus-26857
- Rights
-
Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
- Last update
-
15.08.2025, 7:21 AM CEST
Data provider
This object is provided by:
Deutsche Nationalbibliothek. If you have any questions about the object, please contact the data provider.
Deutsche Nationalbibliothek. If you have any questions about the object, please contact the data provider.
Object type
- Hochschulschrift
Associated
- Groß, Michael
- Stoisiek, Michael
- Universitätsbibliothek der Universität Erlangen-Nürnberg
Time of origin
- 2011
Other Objects (12)
Study of the radiation damage in analog CMOS pipelines, MOS transistors, and MOS capacitors
Arbeitspunktabhängigkeit des 1/f-Rauschens [f-Rauschens] integrierter MOS-Transistoren
Eindimensionale CMOS-Bildsensorik mit integrierter Signalverarbeitung
Daten digitaler integrierter Schaltkreise : - CMOS-Schaltkreise -
Eindimensionale CMOS-Bildsensorik mit integrierter Signalverarbeitung
Entwurf kundenspezifischer integrierter MOS-Schaltungen
Elektronenstrahltesten passivierter integrierter MOS-Bausteine
Voraussetzungen für die Fertigung von 50 V MOS-Transistoren in einem Sub-Micron CMOS-Prozess
Modellierung von Quanteneffekten in einem ladungsbasierten MOS-Transistor-Modell zur Simulation von nanoskalierten CMOS-Analogschaltungen
Layoutabhängige Fehleranalyse und Testsynthese integrierter CMOS-Schaltungen
2-D-CMOS-Bildsensorik mit integrierter Signalverarbeitung
2-D-CMOS-Bildsensorik mit integrierter Signalverarbeitung
Study of the radiation damage in analog CMOS pipelines, MOS transistors, and MOS capacitors
Arbeitspunktabhängigkeit des 1/f-Rauschens [f-Rauschens] integrierter MOS-Transistoren
Eindimensionale CMOS-Bildsensorik mit integrierter Signalverarbeitung
Daten digitaler integrierter Schaltkreise : - CMOS-Schaltkreise -
Eindimensionale CMOS-Bildsensorik mit integrierter Signalverarbeitung
Entwurf kundenspezifischer integrierter MOS-Schaltungen
Elektronenstrahltesten passivierter integrierter MOS-Bausteine
Voraussetzungen für die Fertigung von 50 V MOS-Transistoren in einem Sub-Micron CMOS-Prozess
Modellierung von Quanteneffekten in einem ladungsbasierten MOS-Transistor-Modell zur Simulation von nanoskalierten CMOS-Analogschaltungen
Layoutabhängige Fehleranalyse und Testsynthese integrierter CMOS-Schaltungen
2-D-CMOS-Bildsensorik mit integrierter Signalverarbeitung
2-D-CMOS-Bildsensorik mit integrierter Signalverarbeitung
Study of the radiation damage in analog CMOS pipelines, MOS transistors, and MOS capacitors
Arbeitspunktabhängigkeit des 1/f-Rauschens [f-Rauschens] integrierter MOS-Transistoren
Eindimensionale CMOS-Bildsensorik mit integrierter Signalverarbeitung
Daten digitaler integrierter Schaltkreise : - CMOS-Schaltkreise -
Eindimensionale CMOS-Bildsensorik mit integrierter Signalverarbeitung
Entwurf kundenspezifischer integrierter MOS-Schaltungen
Elektronenstrahltesten passivierter integrierter MOS-Bausteine
Voraussetzungen für die Fertigung von 50 V MOS-Transistoren in einem Sub-Micron CMOS-Prozess
Modellierung von Quanteneffekten in einem ladungsbasierten MOS-Transistor-Modell zur Simulation von nanoskalierten CMOS-Analogschaltungen
Layoutabhängige Fehleranalyse und Testsynthese integrierter CMOS-Schaltungen
2-D-CMOS-Bildsensorik mit integrierter Signalverarbeitung