Hochschulschrift
Study of the radiation damage in analog CMOS pipelines, MOS transistors, and MOS capacitors
- Standort
-
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- Maße
-
30 cm
- Umfang
-
130 Sp.
- Sprache
-
Englisch
- Anmerkungen
-
Ill., graph. Darst.
Zugl.: Hamburg, Univ., Diss., 1996
- Ereignis
-
Veröffentlichung
- (wo)
-
Hamburg
- (wer)
-
DESY
- (wann)
-
1996
- Urheber
-
Böttcher, Stephan
- Inhaltsverzeichnis
- Rechteinformation
-
Bei diesem Objekt liegt nur das Inhaltsverzeichnis digital vor. Der Zugriff darauf ist unbeschränkt möglich.
- Letzte Aktualisierung
- 11.06.2025, 12:00 UTC
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Objekttyp
- Hochschulschrift
Beteiligte
- Böttcher, Stephan
- DESY
Entstanden
- 1996
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