Hochschulschrift
On the Sizing of Analog Integrated Circuits towards Lifetime Robustness
- Alternative title
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                Zur Dimensionierung von analogen integrierten Schaltungen im Hinblick auf die Lebensdauerrobustheit
 
- Location
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                Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
 
- Extent
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                Online-Ressource
 
- Language
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                Englisch
 
- Notes
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                München, Technische Universität München, Diss., 2013
 
- Classification
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                Elektrotechnik, Elektronik
 
- Keyword
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                Analoge integrierte Schaltung
 Robustheit
 Lebensdauer
 
- Event
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                Veröffentlichung
 
- (where)
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                München
 
- (who)
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                Universitätsbibliothek der TU München
 
- (when)
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                2013
 
- Creator
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                Pan, Xin
 
- Contributor
- URN
- 
                
                    
                        urn:nbn:de:bvb:91-diss-20130730-1119272-0-8
- Rights
- 
                
                    
                        Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
- Last update
- 
                
                    
                        14.08.2025, 10:54 AM CEST
Data provider
Deutsche Nationalbibliothek. If you have any questions about the object, please contact the data provider.
Object type
- Hochschulschrift
Associated
- Pan, Xin
- Gräb, Helmut
- Schmitt-Landsiedel, Doris
- Universitätsbibliothek der TU München
Time of origin
- 2013
 
            