Hochschulschrift

On the Sizing of Analog Integrated Circuits towards Lifetime Robustness

Alternative title
Zur Dimensionierung von analogen integrierten Schaltungen im Hinblick auf die Lebensdauerrobustheit
Location
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
Extent
Online-Ressource
Language
Englisch
Notes
München, Technische Universität München, Diss., 2013

Classification
Elektrotechnik, Elektronik
Keyword
Analoge integrierte Schaltung
Robustheit
Lebensdauer

Event
Veröffentlichung
(where)
München
(who)
Universitätsbibliothek der TU München
(when)
2013
Creator
Pan, Xin
Contributor

URN
urn:nbn:de:bvb:91-diss-20130730-1119272-0-8
Rights
Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
Last update
14.08.2025, 10:54 AM CEST

Data provider

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Object type

  • Hochschulschrift

Associated

Time of origin

  • 2013

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