Hochschulschrift
Einfluß von Betauung und Feuchteadsorption auf die Zuverlässigkeit elektronischer Baugruppen
- Standort
-
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- Maße
-
30 cm
- Umfang
-
VIII, 121 Bl.
- Sprache
-
Deutsch
- Anmerkungen
-
Ill., graph. Darst.
München, Techn. Univ., Diss., 1999
- Schlagwort
-
Elektronische Baugruppe
Verunreinigung
Feuchtigkeitsschaden
Elektrochemische Korrosion
Zuverlässigkeit
Elektronische Baugruppe
Witterungsbeständigkeit
Prüftechnik
Prozessentwicklung
- Urheber
-
Schmitt, Stephan
- Inhaltsverzeichnis
- Rechteinformation
-
Bei diesem Objekt liegt nur das Inhaltsverzeichnis digital vor. Der Zugriff darauf ist unbeschränkt möglich.
- Letzte Aktualisierung
-
11.06.2025, 14:25 MESZ
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Objekttyp
- Hochschulschrift
Beteiligte
- Schmitt, Stephan
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