Hochschulschrift
Einfluß von Betauung und Feuchteadsorption auf die Zuverlässigkeit elektronischer Baugruppen
- Standort
-
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- ISBN
-
3896756516
9783831680207
- Maße
-
21 cm
- Umfang
-
VIII, 122 S.
- Sprache
-
Deutsch
- Anmerkungen
-
Ill.graph. Darst.
Zugl.: München, Techn. Univ., Diss., 1999
- Schlagwort
-
Elektronische Baugruppe
Verunreinigung
Feuchtigkeitsschaden
Elektrochemische Korrosion
Zuverlässigkeit
Elektronische Baugruppe
Witterungsbeständigkeit
Prüftechnik
Prozessentwicklung
- Ereignis
-
Veröffentlichung
- (wo)
-
München
- (wer)
-
Utz, Wiss.
- (wann)
-
2000
- Urheber
-
Schmitt, Stephan
- Inhaltsverzeichnis
- Rechteinformation
-
Bei diesem Objekt liegt nur das Inhaltsverzeichnis digital vor. Der Zugriff darauf ist unbeschränkt möglich.
- Letzte Aktualisierung
-
11.06.2025, 14:18 MESZ
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Objekttyp
- Hochschulschrift
Beteiligte
- Schmitt, Stephan
- Utz, Wiss.
Entstanden
- 2000
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