Hochschulschrift
Einfluß von Betauung und Feuchteadsorption auf die Zuverlässigkeit elektronischer Baugruppen
- Location
-
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- Dimensions
-
30 cm
- Extent
-
VIII, 121 Bl.
- Language
-
Deutsch
- Notes
-
Ill., graph. Darst.
München, Techn. Univ., Diss., 1999
- Keyword
-
Elektronische Baugruppe
Verunreinigung
Feuchtigkeitsschaden
Elektrochemische Korrosion
Zuverlässigkeit
Elektronische Baugruppe
Witterungsbeständigkeit
Prüftechnik
Prozessentwicklung
- Creator
-
Schmitt, Stephan
- Table of contents
- Rights
-
Bei diesem Objekt liegt nur das Inhaltsverzeichnis digital vor. Der Zugriff darauf ist unbeschränkt möglich.
- Last update
-
11.06.2025, 2:25 PM CEST
Data provider
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Object type
- Hochschulschrift
Associated
- Schmitt, Stephan
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