Pyrolytische SiO2-Schichten [SiO-Schichten] für die GaAs-Technologie

Location
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
Dimensions
30 cm
Extent
19 S.
Language
Deutsch
Notes
graph. Darst.

Bibliographic citation
Technischer Bericht ; 46, TBr. 7 : Forschungsgruppe FI 41

Event
Veröffentlichung
(where)
[Darmstadt]
(who)
Dt. Bundespost, Forschungsinst. beim FTZ
(when)
1975
Creator
Koschig, Wilfried

Table of contents
Rights
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Last update
11.03.2025, 12:00 PM CET

Data provider

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Time of origin

  • 1975

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