Hochschulschrift
Charakterisierung von Schichtsystemen mittels spektroskopischer Ellipsometrie im fernen Infrarot
- Standort
-
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- ISBN
-
9783860732724
3860732722
- Maße
-
21 cm
- Umfang
-
179 S.
- Ausgabe
-
1. Aufl.
- Sprache
-
Deutsch
- Anmerkungen
-
graph. Darst.
Zugl.: Aachen, Techn. Hochsch., Diss., 1994
- Erschienen in
-
Aachener Beiträge zur Physik der kondensierten Materie ; Bd. 13
- Schlagwort
-
Mehrschichtsystem
Ellipsometrie
FIR
- Ereignis
-
Veröffentlichung
- (wo)
-
Aachen
- (wer)
-
Verl. der Augustinus-Buchh.
- (wann)
-
1994
- Urheber
-
Dittmar, Georg
- Inhaltsverzeichnis
- Rechteinformation
-
Bei diesem Objekt liegt nur das Inhaltsverzeichnis digital vor. Der Zugriff darauf ist unbeschränkt möglich.
- Letzte Aktualisierung
-
11.06.2025, 13:41 MESZ
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Objekttyp
- Hochschulschrift
Beteiligte
- Dittmar, Georg
- Verl. der Augustinus-Buchh.
Entstanden
- 1994
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