Hochschulschrift

Charakterisierung von Schichtsystemen mittels spektroskopischer Ellipsometrie im fernen Infrarot

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Location
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
ISBN
9783860732724
3860732722
Dimensions
21 cm
Extent
179 S.
Edition
1. Aufl.
Language
Deutsch
Notes
graph. Darst.
Zugl.: Aachen, Techn. Hochsch., Diss., 1994

Bibliographic citation
Aachener Beiträge zur Physik der kondensierten Materie ; Bd. 13

Keyword
Mehrschichtsystem
Ellipsometrie
FIR

Event
Veröffentlichung
(where)
Aachen
(who)
Verl. der Augustinus-Buchh.
(when)
1994
Creator
Dittmar, Georg

Table of contents
Rights
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Last update
11.03.2025, 11:47 AM CET

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Object type

  • Hochschulschrift

Associated

  • Dittmar, Georg
  • Verl. der Augustinus-Buchh.

Time of origin

  • 1994

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