In situ studies on atomic layer etching of aluminum oxide using sequential reactions with trimethylaluminum and hydrogen fluoride

Standort
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
Umfang
Online-Ressource
Sprache
Englisch

Erschienen in
In: Journal of vacuum science & technology. 40(3)

Ereignis
Veröffentlichung
(wo)
Dresden
(wer)
Technische Universität Dresden
(wann)
2024
Urheber
Reif, Johanna
Knaut, Martin
Killge, Sebastian
Albert, Matthias
Mikolajick, Thomas
Bartha, Johann W.

URN
urn:nbn:de:bsz:14-qucosa2-911382
Rechteinformation
Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
Letzte Aktualisierung
14.08.2025, 10:58 MESZ

Datenpartner

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Beteiligte

  • Reif, Johanna
  • Knaut, Martin
  • Killge, Sebastian
  • Albert, Matthias
  • Mikolajick, Thomas
  • Bartha, Johann W.
  • Technische Universität Dresden

Entstanden

  • 2024

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