Hochschulschrift
Analyse der Möglichkeiten und Grenzen der Lebensdauer-Spektroskopie an multikristallinem Silizium mittels mikrowellendetektierter Photoleitung
- Location
-
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- Dimensions
-
30 cm
- Extent
-
141 Seiten
- Language
-
Deutsch
- Notes
-
Illustrationen, Diagramme
Technische Universität Bergakademie Freiberg, Dissertation, 2012
- Table of contents
- Rights
-
Bei diesem Objekt liegt nur das Inhaltsverzeichnis digital vor. Der Zugriff darauf ist unbeschränkt möglich.
- Last update
-
11.06.2025, 2:24 PM CEST
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Object type
- Hochschulschrift
Associated
Time of origin
- 2012
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Photoleitung in verformtem Silizium
Photoleitung in plastisch verformtem Silicium [Silizium]
Untersuchung von Defektreaktionen in Silicium mittels Ladungsträger-Lebensdauer-Spektroskopie
Transiente Photoleitung im amorphem Silizium und Silizium-Germanium-Legierungen
Stationäre und nichtstationäre Photoleitung von amorphem Silizium
Transiente Photoleitung an optoelektronischen Bauelementen aus amorphem Silizium
Untersuchung der Photoleitung in mikrokristallinem Silizium für photovoltaische Anwendungen
Photoleitung aus Oberflächenzuständen reiner Silizium-Spaltflächen bei 80 K
Dunkel- und gammainduzierte Photoleitung in hochreinem Silizium bei tiefen Temperaturen
Magnetotransport, Mikrowellen-Photoleitung und Ferninfrarot-Spektroskopie an Antidot- und Quantendot-Systemen
Photoleitung in Bleiphthalocyanin
Photoleitung in Polymeren
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