Test signal generation for analog circuits

Standort
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
Umfang
Online-Ressource
Sprache
Englisch

Erschienen in
Test signal generation for analog circuits ; volume:1 ; year:2003 ; pages:235-238
Advances in radio science ; 1 (2003), 235-238

Urheber
Burdiek, B.
Mathis, W.

DOI
10.5194/ars-1-235-2003
URN
urn:nbn:de:101:1-2017122112386
Rechteinformation
Open Access; Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
Letzte Aktualisierung
15.08.2025, 07:28 MESZ

Datenpartner

Dieses Objekt wird bereitgestellt von:
Deutsche Nationalbibliothek. Bei Fragen zum Objekt wenden Sie sich bitte an den Datenpartner.

Beteiligte

  • Burdiek, B.
  • Mathis, W.

Ähnliche Objekte (12)