Hochschulschrift

Quantitative in-situ particle characterization using focused beam reflectance measurements

Standort
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
ISBN
9783183898039
Maße
21 cm
Umfang
XXII, 187 S.
Ausgabe
Als Ms. gedr.
Sprache
Englisch
Anmerkungen
Ill., graph. Darst.
Zugl.: Aachen, Techn. Hochsch., Diss.

Erschienen in
Fortschrittberichte VDI / 3 / Verein Deutscher Ingenieure ; Nr. 898, Reihe 3

Schlagwort
Teilchenmesstechnik
Reflektometrie
Laserstrahlung
Fokussierung
Korngrößenanalyse
Online-Messung
Messung
Testen

Ereignis
Veröffentlichung
(wo)
Düsseldorf
(wer)
VDI-Verl.
(wann)
2009
Urheber

Inhaltsverzeichnis
Rechteinformation
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Letzte Aktualisierung
11.06.2025, 13:41 MESZ

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Objekttyp

  • Hochschulschrift

Beteiligte

Entstanden

  • 2009

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