Hochschulschrift
Quantitative in-situ particle characterization using focused beam reflectance measurements
- Standort
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Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- ISBN
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9783183898039
- Maße
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21 cm
- Umfang
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XXII, 187 S.
- Ausgabe
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Als Ms. gedr.
- Sprache
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Englisch
- Anmerkungen
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Ill., graph. Darst.
Zugl.: Aachen, Techn. Hochsch., Diss.
- Erschienen in
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Fortschrittberichte VDI / 3 / Verein Deutscher Ingenieure ; Nr. 898, Reihe 3
- Schlagwort
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Teilchenmesstechnik
Reflektometrie
Laserstrahlung
Fokussierung
Korngrößenanalyse
Online-Messung
Messung
Testen
- Inhaltsverzeichnis
- Rechteinformation
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- Letzte Aktualisierung
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11.06.2025, 13:41 MESZ
Datenpartner
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Objekttyp
- Hochschulschrift
Beteiligte
- Kail, Norbert
- VDI-Verl.
Entstanden
- 2009