Hochschulschrift
Phasentopographische Abbildung von oberflächennahen Gitterverzerrungen in einkristallinem Silizium : Anwendung des Röntgen-Michelsoninterferometers
- Location
-
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- ISBN
-
9783897120549
3897120542
- Dimensions
-
21 cm
- Extent
-
II, 116 S.
- Language
-
Deutsch
- Notes
-
Ill., graph. Darst.
Zugl.: Dortmund, Univ., Diss., 1998
- Keyword
-
Röntgeninterferometer
Michelson-Interferometer
Silicium
Einkristall
Verzerrung
- Table of contents
- Rights
-
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- Last update
-
11.03.2025, 12:29 PM CET
Data provider
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Object type
- Hochschulschrift
Associated
- Bartscher, Markus
- Cuvillier
Time of origin
- 1998
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Nichtlinear-optische Untersuchungen an kristallinem Silicium
Zwei neue paramagnetische Myonspezies in kristallinem Silizium
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Magnetotransporteigenschaften von Si-Ge-Heterostrukturen auf Silizium
HF-Leistungsverstärker in modernen Silizium- und Verbindungshalbleiter-Technologien
Pufferschichttechnologie auf Silizium-Membranen für höchstempfindliche HTSL-Bolometer
Relaxationsinduziertes Gettern von Kobalt und Nickel in Silizium
Grundlegende Untersuchungen zur Charakterisierung plasmamodifizierter Polyolefinoberflächen mittels Röntgen-Photoelektronenspektroskopie
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