Hochschulschrift
Phasentopographische Abbildung von oberflächennahen Gitterverzerrungen in einkristallinem Silizium : Anwendung des Röntgen-Michelsoninterferometers
- Standort
-
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- ISBN
-
9783897120549
3897120542
- Maße
-
21 cm
- Umfang
-
II, 116 S.
- Sprache
-
Deutsch
- Anmerkungen
-
Ill., graph. Darst.
Zugl.: Dortmund, Univ., Diss., 1998
- Schlagwort
-
Röntgeninterferometer
Michelson-Interferometer
Silicium
Einkristall
Verzerrung
- Inhaltsverzeichnis
- Rechteinformation
-
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- Letzte Aktualisierung
-
11.03.2025, 12:29 MEZ
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Objekttyp
- Hochschulschrift
Beteiligte
- Bartscher, Markus
- Cuvillier
Entstanden
- 1998
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