Assessing microstrain in polycrystalline thin films by means of various diffraction and spectroscopy techniques
- Alternative title
-
Ermittlung von Mikrodehnungsverteilungen in polykristallinen Dünnschichten mittels verschiedener Beugungs- und Spektroskopietechniken
- Location
-
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- Extent
-
Online-Ressource
- Language
-
Englisch
- Notes
-
Berlin, Technische Universität Berlin, Dissertation, 2016
- Classification
-
Physik
- Event
-
Veröffentlichung
- (where)
-
Berlin
- (who)
-
Technische Universität Berlin
- (when)
-
2016
- Creator
- Contributor
- DOI
-
10.14279/depositonce-5460
- Handle
-
11303/5861
- URN
-
urn:nbn:de:101:1-201804164007
- Rights
-
Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
- Last update
-
14.08.2025, 10:49 AM CEST
Data provider
This object is provided by:
Deutsche Nationalbibliothek. If you have any questions about the object, please contact the data provider.
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Associated
- Schäfer, Norbert
- Reimers, Walter
- Lips, Klaus
- Technische Universität Berlin
Time of origin
- 2016
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