Hochschulschrift
In situ Spannungs- und Strukturanalyse von Molybdän- und CuInS2-Dünnschichten mittels Röntgendiffraktion
- Weitere Titel
-
In situ residual stress and structure analyses of Molybdenum and CuInS2 thin films by means of X-ray diffraction
- Standort
-
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- Umfang
-
Online-Ressource
- Sprache
-
Deutsch
- Anmerkungen
-
Berlin, Technische Universtität Berlin, Diss., 2012
- Ereignis
-
Veröffentlichung
- (wo)
-
Berlin
- (wer)
-
Universitätsbibliothek der Technischen Universität Berlin
- (wann)
-
2012
- Urheber
-
Thomas, Diana
- Beteiligte Personen und Organisationen
- URN
-
urn:nbn:de:kobv:83-opus-35787
- Rechteinformation
-
Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
- Letzte Aktualisierung
-
15.08.2025, 07:35 MESZ
Datenpartner
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Objekttyp
- Hochschulschrift
Beteiligte
- Thomas, Diana
- Reimers, Walter
- Universitätsbibliothek der Technischen Universität Berlin
Entstanden
- 2012
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