Hochschulschrift

In situ Spannungs- und Strukturanalyse von Molybdän- und CuInS2-Dünnschichten mittels Röntgendiffraktion

Alternative title
In situ residual stress and structure analyses of Molybdenum and CuInS2 thin films by means of X-ray diffraction
Location
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
Extent
Online-Ressource
Language
Deutsch
Notes
Berlin, Technische Universtität Berlin, Diss., 2012

Event
Veröffentlichung
(where)
Berlin
(who)
Universitätsbibliothek der Technischen Universität Berlin
(when)
2012
Creator
Thomas, Diana
Contributor

URN
urn:nbn:de:kobv:83-opus-35787
Rights
Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
Last update
15.08.2025, 7:35 AM CEST

Data provider

This object is provided by:
Deutsche Nationalbibliothek. If you have any questions about the object, please contact the data provider.

Object type

  • Hochschulschrift

Associated

  • Thomas, Diana
  • Reimers, Walter
  • Universitätsbibliothek der Technischen Universität Berlin

Time of origin

  • 2012

Other Objects (12)