Hochschulschrift

Effiziente Erfassung von realistischen Fehlern in hochintegrierten Schaltungen

Standort
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
ISBN
9783183240098
3183240092
Maße
21 cm
Umfang
XIV, 160 S.
Ausgabe
Als Ms. gedr.
Sprache
Deutsch
Anmerkungen
graph. Darst.
Zugl.: Siegen, Univ., Diss.

Erschienen in
Fortschrittberichte VDI / 9 / Verein Deutscher Ingenieure ; Nr. 240, Reihe 9

Schlagwort
LSI
Testbarkeit
Fehlermodell

Ereignis
Veröffentlichung
(wo)
Düsseldorf
(wer)
VDI-Verl.
(wann)
1996
Urheber
Stern, Olaf

Inhaltsverzeichnis
Rechteinformation
Bei diesem Objekt liegt nur das Inhaltsverzeichnis digital vor. Der Zugriff darauf ist unbeschränkt möglich.
Letzte Aktualisierung
11.06.2025, 14:08 MESZ

Datenpartner

Dieses Objekt wird bereitgestellt von:
Deutsche Nationalbibliothek. Bei Fragen zum Objekt wenden Sie sich bitte an den Datenpartner.

Objekttyp

  • Hochschulschrift

Beteiligte

  • Stern, Olaf
  • VDI-Verl.

Entstanden

  • 1996

Ähnliche Objekte (12)