Hochschulschrift

Bestimmung von Spurenverunreinigungen in SiC-Hochleistungskeramiken mit Hilfe der ICP-Massenspektrometrie

Location
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
Dimensions
30 cm
Extent
132 S.
Language
Deutsch
Notes
Ill., graph. Darst.
Dortmund, Univ., Diss., 1994

Keyword
Siliciumcarbid
Hochleistungskeramik
Spurenanalyse
ICP-Massenspektrometrie

Creator
Pilger, Carsten

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Last update
11.03.2025, 11:40 AM CET

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Object type

  • Hochschulschrift

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  • Pilger, Carsten

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