Characterization and Modeling of the Threshold Voltage Instability in p-Gate GaN HEMTs

Standort
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
Umfang
Online-Ressource
Sprache
Englisch
Anmerkungen
Dortmund, Technische Universität, Dissertation, 2023

Klassifikation
Elektrotechnik, Elektronik
Schlagwort
Galliumnitrid
HEMT
Aluminiumnitrid
Großsignalverhalten
MOS-FET
Feldeffekttransistor
HEMT

Ereignis
Veröffentlichung
(wo)
Dortmund
(wer)
Universitätsbibliothek Dortmund
(wann)
2023
Urheber
Beteiligte Personen und Organisationen
Pfost, Martin
Schulze, Jörg

Handle
2003/42508
URN
urn:nbn:de:101:1-2405240342266.409723376492
Rechteinformation
Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
Letzte Aktualisierung
14.08.2025, 10:55 MESZ

Datenpartner

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Beteiligte

Entstanden

  • 2023

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