Characterization and Modeling of the Threshold Voltage Instability in p-Gate GaN HEMTs
- Location
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Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- Extent
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Online-Ressource
- Language
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Englisch
- Notes
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Dortmund, Technische Universität, Dissertation, 2023
- Classification
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Elektrotechnik, Elektronik
- Keyword
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Galliumnitrid
HEMT
Aluminiumnitrid
Großsignalverhalten
MOS-FET
Feldeffekttransistor
HEMT
- Event
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Veröffentlichung
- (where)
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Dortmund
- (who)
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Universitätsbibliothek Dortmund
- (when)
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2023
- Creator
- Contributor
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Pfost, Martin
Schulze, Jörg
- Handle
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2003/42508
- URN
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urn:nbn:de:101:1-2405240342266.409723376492
- Rights
-
Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
- Last update
-
14.08.2025, 10:55 AM CEST
Data provider
Deutsche Nationalbibliothek. If you have any questions about the object, please contact the data provider.
Associated
- Sezgin-Oeder, Thorsten
- Pfost, Martin
- Schulze, Jörg
- Universitätsbibliothek Dortmund
Time of origin
- 2023