Characterization and Modeling of the Threshold Voltage Instability in p-Gate GaN HEMTs
- Standort
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Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- Umfang
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Online-Ressource
- Sprache
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Englisch
- Anmerkungen
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Dortmund, Technische Universität, Dissertation, 2023
- Klassifikation
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Elektrotechnik, Elektronik
- Schlagwort
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Galliumnitrid
HEMT
Aluminiumnitrid
Großsignalverhalten
MOS-FET
Feldeffekttransistor
HEMT
- Ereignis
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Veröffentlichung
- (wo)
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Dortmund
- (wer)
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Universitätsbibliothek Dortmund
- (wann)
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2023
- Urheber
- Beteiligte Personen und Organisationen
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Pfost, Martin
Schulze, Jörg
- Handle
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2003/42508
- URN
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urn:nbn:de:101:1-2405240342266.409723376492
- Rechteinformation
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Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
- Letzte Aktualisierung
-
14.08.2025, 10:55 MESZ
Datenpartner
Deutsche Nationalbibliothek. Bei Fragen zum Objekt wenden Sie sich bitte an den Datenpartner.
Beteiligte
- Sezgin-Oeder, Thorsten
- Pfost, Martin
- Schulze, Jörg
- Universitätsbibliothek Dortmund
Entstanden
- 2023