Analysis on the Filament Structure Evolution in Reset Transition of Cu/HfO2/Pt RRAM Device
- Standort
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Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- ISSN
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1556-276X
- Umfang
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Online-Ressource
- Sprache
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Englisch
- Anmerkungen
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online resource.
- Erschienen in
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Analysis on the Filament Structure Evolution in Reset Transition of Cu/HfO2/Pt RRAM Device ; volume:11 ; number:1 ; day:25 ; month:5 ; year:2016 ; pages:1-6 ; date:12.2016
Nanoscale research letters ; 11, Heft 1 (25.5.2016), 1-6, 12.2016
- Urheber
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Zhang, Meiyun
- Beteiligte Personen und Organisationen
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Long, Shibing
Li, Yang
Liu, Qi
Lv, Hangbing
Miranda, Enrique
Sune, Jordi
Liu, Ming
SpringerLink (Online service)
- DOI
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10.1186/s11671-016-1484-8
- URN
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urn:nbn:de:1111-201607112193
- Rechteinformation
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Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
- Letzte Aktualisierung
-
14.08.2025, 10:45 MESZ
Datenpartner
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Beteiligte
- Zhang, Meiyun
- Long, Shibing
- Li, Yang
- Liu, Qi
- Lv, Hangbing
- Miranda, Enrique
- Sune, Jordi
- Liu, Ming
- SpringerLink (Online service)