Analysis on the Filament Structure Evolution in Reset Transition of Cu/HfO2/Pt RRAM Device

Standort
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
ISSN
1556-276X
Umfang
Online-Ressource
Sprache
Englisch
Anmerkungen
online resource.

Erschienen in
Analysis on the Filament Structure Evolution in Reset Transition of Cu/HfO2/Pt RRAM Device ; volume:11 ; number:1 ; day:25 ; month:5 ; year:2016 ; pages:1-6 ; date:12.2016
Nanoscale research letters ; 11, Heft 1 (25.5.2016), 1-6, 12.2016

Urheber
Zhang, Meiyun
Beteiligte Personen und Organisationen
Long, Shibing
Li, Yang
Liu, Qi
Lv, Hangbing
Miranda, Enrique
Sune, Jordi
Liu, Ming
SpringerLink (Online service)

DOI
10.1186/s11671-016-1484-8
URN
urn:nbn:de:1111-201607112193
Rechteinformation
Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
Letzte Aktualisierung
14.08.2025, 10:45 MESZ

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Beteiligte

  • Zhang, Meiyun
  • Long, Shibing
  • Li, Yang
  • Liu, Qi
  • Lv, Hangbing
  • Miranda, Enrique
  • Sune, Jordi
  • Liu, Ming
  • SpringerLink (Online service)

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