Machine learning based quantification of synchrotron radiation-induced X-ray fluorescence measurements - a case study

Standort
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
Umfang
Online-Ressource
Sprache
Englisch

Erschienen in
In: Machine Learning: Science and Technology, S. 1-16

Ereignis
Veröffentlichung
(wo)
Berlin
(wer)
Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung (BAM)
(wann)
2020
Urheber
Radtke, Martin
Rakotondrajoa, A.

DOI
10.1088/2632-2153/abc9fb
URN
urn:nbn:de:kobv:b43-519008
Rechteinformation
Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
Letzte Aktualisierung
15.08.2025, 07:36 MESZ

Datenpartner

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Beteiligte

  • Radtke, Martin
  • Rakotondrajoa, A.
  • Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung (BAM)

Entstanden

  • 2020

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