Machine learning based quantification of synchrotron radiation-induced X-ray fluorescence measurements - a case study

Location
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
Extent
Online-Ressource
Language
Englisch

Bibliographic citation
In: Machine Learning: Science and Technology, S. 1-16

Event
Veröffentlichung
(where)
Berlin
(who)
Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung (BAM)
(when)
2020
Creator
Radtke, Martin
Rakotondrajoa, A.

DOI
10.1088/2632-2153/abc9fb
URN
urn:nbn:de:kobv:b43-519008
Rights
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Last update
15.08.2025, 7:36 AM CEST

Data provider

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  • Radtke, Martin
  • Rakotondrajoa, A.
  • Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung (BAM)

Time of origin

  • 2020

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