Hochschulschrift

Effiziente Verfahren zu Analyse und Test von Laufzeiteigenschaften integrierter Schaltungen

Standort
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
ISBN
9783897911963
3897911965
Maße
21 cm
Umfang
VII, 131 S.
Ausgabe
Als Typoskript gedr.
Sprache
Deutsch
Anmerkungen
graph. Darst.
Zugl.: München, Techn. Univ., Diss., 2001

Schlagwort
VLSI
Timingsimulation
Laufzeitmessung
Verzögerungszeit
Testmustergenerierung

Ereignis
Veröffentlichung
(wo)
München
(wer)
Hieronymus
(wann)
2001
Urheber
Ganz, Andreas

Inhaltsverzeichnis
Rechteinformation
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Letzte Aktualisierung
11.06.2025, 13:36 MESZ

Datenpartner

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Objekttyp

  • Hochschulschrift

Beteiligte

  • Ganz, Andreas
  • Hieronymus

Entstanden

  • 2001

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