Hochschulschrift

Effiziente Verfahren zu Analyse und Test von Laufzeiteigenschaften integrierter Schaltungen

Location
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
ISBN
9783897911963
3897911965
Dimensions
21 cm
Extent
VII, 131 S.
Edition
Als Typoskript gedr.
Language
Deutsch
Notes
graph. Darst.
Zugl.: München, Techn. Univ., Diss., 2001

Keyword
VLSI
Timingsimulation
Laufzeitmessung
Verzögerungszeit
Testmustergenerierung

Event
Veröffentlichung
(where)
München
(who)
Hieronymus
(when)
2001
Creator
Ganz, Andreas

Table of contents
Rights
Bei diesem Objekt liegt nur das Inhaltsverzeichnis digital vor. Der Zugriff darauf ist unbeschränkt möglich.
Last update
11.06.2025, 1:36 PM CEST

Data provider

This object is provided by:
Deutsche Nationalbibliothek. If you have any questions about the object, please contact the data provider.

Object type

  • Hochschulschrift

Associated

  • Ganz, Andreas
  • Hieronymus

Time of origin

  • 2001

Other Objects (12)