Fehlermechanismen und Prüfverfahren miniaturisierter Lötverbindungen : Ergebnisbericht des BMBF-Verbundprojekts "Zerstörende und zerstörungsfreie Prüftechnik für die Charakterisierung von nanoskaligen Alterungsmechanismen an hochminiaturisierten Lötverbindungen"

Standort
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
ISBN
9783934142343
Maße
21 cm
Umfang
X, 364 S.
Ausgabe
1. Aufl.
Sprache
Deutsch
Anmerkungen
Ill., graph. Darst.
Literaturverz. S. 357 - 359

Erschienen in
System integration in electronic packaging ; Vol. 9

Klassifikation
Elektrotechnik, Elektronik
Schlagwort
Elektronische Baugruppe
Miniaturisierung
Lötverbindung
Alterung
Werkstoffprüfung
Lebensdauer

Ereignis
Veröffentlichung
(wo)
Templin
(wer)
Detert
(wann)
2009
Beteiligte Personen und Organisationen

Inhaltsverzeichnis
Rechteinformation
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Letzte Aktualisierung
11.06.2025, 13:56 MESZ

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Beteiligte

Entstanden

  • 2009

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